г. Санкт-Петербург,
ул. Магнитогорская, дом 51, литера Ю
Время работы: Офис: с 9 до 18
Склад: с 8 до 17
8 (812) 409-48-23 Звонок по России бесплатный sale@chipdocs.ru

CAY10-220J4LF Bourns

Артикул
CAY10-220J4LF
Бренд
Bourns
Описание
RES ARRAY 4 RES 22 OHM 0804, 22 Ohm ±5% 62.5mW Power Per Element Isolated 4 Resistor Network/Array ±250ppm/°C 0804, Convex, Long Side Terminals
Цена
17 руб.
Теги
Resistors, Резисторы, Resistor Networks, Arrays, Резисторные сети, массивы
files/CAY10-220J4LF.jpg
8533.21.0010
CAY10-220J4LFTR,CAY10220J4LF,CAY10-220J4LFDKR,CAY10-220J4LFCT
10,000
-
Warning Information
Surface Mount
Isolated
22
4
-
-
8
EAR99
REACH Unaffected
1 (Unlimited)
CAY10
Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
Active
±5%
±250ppm/°C
-55°C ~ 125°C
0804, Convex, Long Side Terminals
-
0.079" L x 0.039" W (2.00mm x 1.00mm)
0.018" (0.45mm)
CAY10
ROHS3 Compliant
62.5mW

Узнайте актуальную цену на данный товар

Оставьте Ваши контактные данные и наш менеджер ответит вам в течение 15 минут

Похожие товары

Артикул: RG1608N-152-W-T1
Бренд: Susumu
Описание: RES SMD 1.5KOHM 0.05% 1/10W 0603, 1.5 kOhms ±0.05% 0.1W, 1/10W Chip Resistor 0603 (1608 Metric) Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200 Thin Film
Подробнее
Артикул: PT15NV15-103A2020-E
Бренд: Amphenol
Описание: 15 MM CARBON POTENTIOMETER, 10 kOhms 0.25W, 1/4W PC Pins Through Hole Trimmer Potentiometer Carbon 1.0 Turn Top Adjustment
Подробнее
Артикул: CRCW2512150RJNEG
Бренд: VISHAY
Описание: RES SMD 150 OHM 5% 1W 2512, 150 Ohms ±5% 1W Chip Resistor 2512 (6432 Metric) Automotive AEC-Q200 Thick Film
Подробнее
Артикул: RC0805FR-07430KL
Бренд: YAGEO
Описание: RES 430K OHM 1% 1/8W 0805, 430 kOhms ±1% 0.125W, 1/8W Chip Resistor 0805 (2012 Metric) Moisture Resistant Thick Film
Подробнее
Артикул: CSS2H-2512R-1L00F
Бренд: Bourns
Описание: RES 0.001 OHM 1% 5W 2512, 1 mOhms ±1% 5W Chip Resistor 2512 (6432 Metric) Automotive AEC-Q200, Current Sense Metal Element
Подробнее
Артикул: THS252R7J
Бренд: TE Connectivity
Описание: RES CHAS MNT 2.7 OHM 5% 25W, 2.7 Ohms ±5% 25W Wirewound Chassis Mount Resistor
Подробнее